通过AOM查看事件根因分析结果

查看事件根因分析结果

1. 登录AOM 2.0控制台。
2. 左侧导航栏单击“应用性能监控 > 智能洞察 > 智能巡检”，进入智能巡检页面。
3. 单击事件卡片或列表中事件类型名称进入该事件详情页面，查看各类型事件的根因分析。（单击事件详情页的根因分析中的根因组件名称可以跳转至对应组件的详情页面。当前仅新加坡区域支持跳转。）
   • 应用服务整体平均响应时间突增：基于应用的调用链数据，针对应用粒度提供下钻分析，分析应用下每个组件的平均时延以快速定位根因，找到导致应用整体RT突增的具体组件。
     图1 应用服务整体平均响应时间突增
     
   • 应用服务整体错误率突增：基于应用的调用链数据，针对应用粒度提供下钻分析，分析应用下每个组件的错误率以快速定位根因，下钻到应用下具体组件的错误率异常。单击“查看调用链”，可详细追踪错误率突增的原因。
     图2 应用服务整体错误率突增
     
   • TopN接口平均响应时间突增：基于应用的调用链数据，针对接口粒度提供调用链响应时间分析，快速定位根因。
     图3 TopN接口平均响应时间突增
     
   • TopN接口错误率突增：基于应用的调用链数据，针对接口粒度提供调用链错误率分析，快速定位根因。单击“查看调用链”，可详细追踪错误率突增的原因。
     图4 TopN接口错误率突增
     

事件根因分析方法说明